fischerscopex-rayxulxym上海 FISCHERSCOPE®-X-RAYXUL是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結構緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無損測量鍍層厚度和成分分析。比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。

德國菲希爾fischerxdl-230鍍層膜厚測試儀 FISCHERSCOPEX-RAYXDL230是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。手動操作的X-Y工作臺，馬達驅動的Z軸系統。高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以準確定位測量位置。通過視頻窗口，還可以實時觀察測量過程和進度。測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計

德國fischer膜厚儀X射線熒光測厚儀 XULM特別適合測量細小的部件如連接器，觸點或線，也可以測量印刷線路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點為Ø0.25mm的準直器測量，20秒的重復精度可達2.5nm。

FischerX-RAYXUV773X射線熒光鍍層測厚儀 FISCHERSCOPEX-RAYXUV儀器配有一個可抽真空的大型測量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測器能夠探測低至1keV的熒光輻射能量，從而能夠有效地測量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L輻射。

FischerXDAL237X射線熒光測厚儀 FISCHERSCOPEX-RAYXDAL型儀器的測量空間寬大，可以用于測量復雜幾何形狀的各種樣品。馬達驅動可調節的Z軸允許放置*高可達140mm高度的樣品。C型槽設計可以方便地測量諸如印刷線路板等大平面樣品。測量系統配有快速可編程的XY平臺，因而可以方便地按照預定程序掃描檢查樣品表面

菲希爾x射線鍍層測厚儀fischerxdv-sdd FISCHERSCOPEX-RAYXDV-SDD型儀器配備了感應區域大而分辨率良好的硅漂移接收器，這樣在使用大準直器的情況下，可以達到很高的計數率，從而實現良好的重復精度和很低的檢測下限。XDV-SDD非常適合痕量分析中非常薄鍍層的測量。