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    • fischerscope x-ray xul xym上海

      更新時間:2021-01-14

      廠商性質:代理商

      fischerscopex-rayxulxym上海 FISCHERSCOPE®-X-RAYXUL是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀,它結構緊湊,小巧耐用。它們十分適用于無損測量鍍層厚度和成分分析。比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。
    • 德國菲希爾fischer xdl-230鍍層膜厚測試儀

      更新時間:2020-11-06

      廠商性質:代理商

      德國菲希爾fischerxdl-230鍍層膜厚測試儀 FISCHERSCOPEX-RAYXDL230是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。手動操作的X-Y工作臺,馬達驅動的Z軸系統。高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能,可以準確定位測量位置。通過視頻窗口,還可以實時觀察測量過程和進度。測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計
    • XULM 240德國fischer膜厚儀 X射線熒光測厚儀

      更新時間:2020-09-17

      廠商性質:代理商

      德國fischer膜厚儀X射線熒光測厚儀 XULM特別適合測量細小的部件如連接器,觸點或線,也可以測量印刷線路板上的Au,Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點為Ø0.25mm的準直器測量,20秒的重復精度可達2.5nm。
    • Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測厚儀

      更新時間:2020-12-28

      廠商性質:代理商

      FischerX-RAYXUV773X射線熒光鍍層測厚儀 FISCHERSCOPEX-RAYXUV儀器配有一個可抽真空的大型測量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測器能夠探測低至1keV的熒光輻射能量,從而能夠有效地測量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L輻射。
    • Fischer XDAL237 X射線熒光測厚儀

      更新時間:2020-09-17

      廠商性質:代理商

      FischerXDAL237X射線熒光測厚儀 FISCHERSCOPEX-RAYXDAL型儀器的測量空間寬大,可以用于測量復雜幾何形狀的各種樣品。馬達驅動可調節的Z軸允許放置*高可達140mm高度的樣品。C型槽設計可以方便地測量諸如印刷線路板等大平面樣品。測量系統配有快速可編程的XY平臺,因而可以方便地按照預定程序掃描檢查樣品表面
    • 菲希爾x射線鍍層測厚儀fischer xdv-sdd

      更新時間:2021-02-23

      廠商性質:代理商

      菲希爾x射線鍍層測厚儀fischerxdv-sdd FISCHERSCOPEX-RAYXDV-SDD型儀器配備了感應區域大而分辨率良好的硅漂移接收器,這樣在使用大準直器的情況下,可以達到很高的計數率,從而實現良好的重復精度和很低的檢測下限。XDV-SDD非常適合痕量分析中非常薄鍍層的測量。
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